Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku
Ukončeno v akademickém roce 2021/2022

Měřící systémy a jejich programování

Typ studia navazující magisterské
Jazyk výuky čeština
Kód 450-4011/01
Zkratka MSP
Název předmětu česky Měřící systémy a jejich programování
Název předmětu anglicky Programming of Measurement Systems
Kreditů 5
Garantující katedra Katedra kybernetiky a biomedicínského inženýrství
Garant předmětu prof. Ing. Petr Bilík, Ph.D.

Osnova předmětu

Přednášky:
1. Vývojové trendy ve vývoji měřicí techniky, architektury měřicích systémů - možnosti, použití, role softwaru v těchto architekturách
2. Vývoj uživatelských aplikačních programů pro měření. Graficky orientovaná vývojová prostředí - struktura a možnosti vývojového prostředí LabVIEW. Možné způsoby ukládání naměřených dat (ASCII, BIN, XML, DataTypeFile,TDMS). Strukturované ukládání technických dat TDMS.
3. SW nástroje managementu naměřených dat. NI DataFinder. DIAdem prohlídka, vyhledávání, analýza a vytváření protokolů. Vytvoření TDM souboru s vhodnými properties, otevření v Excel a v DIAdem.
4. SW nástroje umožňující realizaci měřicích systémů schopných upravovat a analyzovat měřený signál bez programování NI SignalExpress. Funkce pro úpravu měřeného signálu, funkce pro analýzu měřeného signálu v časové a frekvenční oblasti, funkce pro statistické zpracování měřeného signálu.
5. Textově orientovaná vývojová prostředí pro tvorbu měřicích systémů LabWindows CVI. Princip práce v prostředí, UIR, callback funkce, timer.
6. LabWindows CVI. Měření kartou v CVI, graf v čas oblasti, spektrum.
7. LabWindows CVI. Menu, práce s více panely. Zadání SP.
8. Vývojové prostředí pro tvorbu, ladění a editaci testovacích sekvencí TestStand. Základní filozofie, struktura. Výhody, aplikace v automatických testovacích systémech v rámci testování průmyslové produkce.
9. Optická kontrola výrobků – NI vision. Programování měřicích systémů pro aplikační oblast optické kontroly produkce.
10. Vývojová prostředí a hardwarové platformy pro automatizované systémy měření a řízení v reálném čase: cRIO, LV RT, LV embedded.
11. Měřící systémy produkující výsledky v časové oblasti a ve frekvenční oblasti. SW podpora, funkce digitálního osciloskopu, podmínky pro spouštění, maskové spouštěcí podmínky.
12. Automatizované testovací systémy na bázi virtuální instrumentace.
13. Novinky v oblasti automatizace měření a testování.

Počítačové laboratoře:
1. Architektury měřicích systémů - možnosti, použití, role softwaru v těchto architekturách - prezentace různých koncepcí
2. Principy práce v LabVIEW, práce s BIN a TDMS soubory v LabVIEW.
3. Principy práce v DIADem, využití properties TDMS souborů.
4. Realizace jednoduchého systému pro sběr měřených dat v prostředí LabVIEW SignalExpress
5. Seznámení s textově orientovaným vývojovým prostředím CVI - jeho strukturou.
6. Seznámení s knihovnami v CVI- realizace jednoduché aplikace pro sběr vizualizaci měřených dat.
7. Vytváření složitějšího uživatelského rozhraní v CVI.
8. Zdokonalení práce v CVI.
9. Programování měřicích systémů pro oblast optické kontroly produkce - SW podpora v graficky orientovaném vývojovém prostředí
10. Případová studie programování virtuálního měřicího systému pro sběr a analýzu dat v časové oblasti
11. Případová studie programování virtuálního měřicího systému pro sběr a analýzu dat ve frekvenční oblasti
12. Programování měřicích systémů pro OS reálného času v prostředí LabVIEW
13. Programování vestavných měřicích systémů v prostředí LabVIEW

Samostatný projekt:
Návrh a vývoj SW dle zadání v prostředí CVI. SW realizuje měření, vyhodnocení a prezentaci signálů. Zadání respektuje získané dovedností v prostředí CVI. Rozsah projektu je 10 hodin samostatné práce studenta.

Povinná literatura

BILÍK, Petr: Měřicí systémy a jejich programování, učební text VŠB TU Ostrava, Ostrava, 2013

SONKA, Milan., Vaclav. HLAVAC a Roger BOYLE. Image processing, analysis, and machine vision. 3rd ed. Toronto: Thompson Learning, c2008. ISBN 978-0-495-08252-1.

Doporučená literatura

DOBEŠ, Michal. Zpracování obrazu a algoritmy v C#. 1. vyd. Praha: BEN - technická literatura, 2008, 143 s. ISBN 978-80-7300-233-6.