ECKERTOVÁ L., FRANK L.: Metody analýzy povrchů - elektronová mikroskopie a difrakce. Academia, 1996.
FRANK L., KRÁL J.: Metody analýzy povrchů - iontové, sondové a speciální metody. Academia, 2002.
ECKERTOVÁ L.: Experimentální metody fyziky pevných látek – metody analýzy povrchů. Univerzita Karlova, Praha, 1982.
en:
ECKERTOVA L.: Physics of Thin Films, Plenum Publishing Co., New York, SNTL Praha, 1986
DANILATOS G.D.: Advances in Electronics and Electron Physics, 78 (1990), 102
Ukončeno v akademickém roce 2023/2024
Fyzikální metody analýzy materiálů
| Typ studia | bakalářské |
|---|---|
| Jazyk výuky | čeština |
| Kód | 480-2023/01 |
| Zkratka | FMAM |
| Název předmětu česky | Fyzikální metody analýzy materiálů |
| Název předmětu anglicky | Physical Methods of Material Analysis |
| Kreditů | 5 |
| Garantující katedra | Katedra fyziky |
| Garant předmětu | doc. Ing. Irena Hlaváčová, Ph.D. |
Osnova předmětu
1. Úvod do teorie měření – základy metrologie.
2. Elektronová struktura látek. Elektromagnetické záření.
3. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou I:
fotoelektronová spektroskopie.
4. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou II:
rentgenová spektroskopie.
5. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou III:
defektoskopie a difrakce.
6. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou I:
elektronová mikroskopie (rastrovací, Augerova)
7. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou II:
elektronová difrakce
8. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou III:
rentgenová mikroanalýza, hmotnostní spektroskopie
9. Analytická metoda založená na interakci neutronů s látkou: neutronová difrakce.
10. Analytické metody založené na interakci iontů s látkou:
spektroskopie rozptýlených, pomalých, sekundárních iontů, Rutherfordův zpětný rozptyl
11. Autoemisní mikroskopie a spektroskopie
12. Jaderné rezonanční metody - NMR, Mössbauerova spektroskopie.
13. Speciální experimentální techniky (magnetické, optické, magnetooptické...)
2. Elektronová struktura látek. Elektromagnetické záření.
3. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou I:
fotoelektronová spektroskopie.
4. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou II:
rentgenová spektroskopie.
5. Analytické metody založené na interakci fotonů s látkou III:
defektoskopie a difrakce.
6. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou I:
elektronová mikroskopie (rastrovací, Augerova)
7. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou II:
elektronová difrakce
8. Analytické metody založené na interakci elektronů s látkou III:
rentgenová mikroanalýza, hmotnostní spektroskopie
9. Analytická metoda založená na interakci neutronů s látkou: neutronová difrakce.
10. Analytické metody založené na interakci iontů s látkou:
spektroskopie rozptýlených, pomalých, sekundárních iontů, Rutherfordův zpětný rozptyl
11. Autoemisní mikroskopie a spektroskopie
12. Jaderné rezonanční metody - NMR, Mössbauerova spektroskopie.
13. Speciální experimentální techniky (magnetické, optické, magnetooptické...)
Povinná literatura
Doporučená literatura
AMBROS F.: Experimentální metody a technika, ČVUT, 1993.
BRZKOVSKÝ K.: Experimentální metody měření, ČVUT, 1993.
DVOŘÁK L.: Úvod do fyziky kondenzovaných látek, UP Olomouc, 1993.
GRICOVÁ M.: Metody analýzy materiálů, ČVUT Praha, 1988.
en
DOEHNE E., BOWER N.W.: Microscopy and Microanalysis, 2, (1997), 535-563
COWLEY J.M.: Diffraction Physics, N. Holland Publishing Co., Amsterdam 1979
BRZKOVSKÝ K.: Experimentální metody měření, ČVUT, 1993.
DVOŘÁK L.: Úvod do fyziky kondenzovaných látek, UP Olomouc, 1993.
GRICOVÁ M.: Metody analýzy materiálů, ČVUT Praha, 1988.
en
DOEHNE E., BOWER N.W.: Microscopy and Microanalysis, 2, (1997), 535-563
COWLEY J.M.: Diffraction Physics, N. Holland Publishing Co., Amsterdam 1979