Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku
Terminated in academic year 2021/2022

Metody strukturní a fázové analýzy nanomateriálů

Typ studia navazující magisterské
Jazyk výuky čeština
Kód 617-3028/01
Zkratka MSFAN
Název předmětu česky Metody strukturní a fázové analýzy nanomateriálů
Název předmětu anglicky Methods of structural and phase analysis of nanomaterials
Kreditů 4
Garantující katedra Katedra chemie
Garant předmětu prof. Ing. Vlastimil Matějka, Ph.D.

Subject syllabus

1. Základní pojmy z oblasti mineralogie a krystalografie. Krystalové soustavy, Bravaisovy mřížky, indexy mřížkových uzlů, mřížkových směrů a mřížkových rovin.
2. Makroskopická souměrnost krystalů, bodové grupy a vliv jejich symetrie na vlastnosti krystalů.
3. Reciproká mřížka, její konstrukce, vztahy v reciproké mřížce, Ewaldova konstrukce.
4. Reálné krystalové struktury. Izomorfie, polymorfie, polytypie, defekty krystalových struktur.
5. Vznik RTG záření, zdroje rentgenového záření. Interakce RTG záření s hmotou. Rozptyl RTG záření, difrakce na krystalové mřížce, vliv rozmístění atomů na difrakční obraz.
6. Přehled RTG difrakčních technik, metody studia monokrystalů, studium práškových a polykrystalických látek.
7. Konstrukce RTG práškového difraktometru, modifikace uspořádání RTG difraktometrů.
8. Konstrukční prvky RTG difraktometrů.
9. RTG difrakční záznam, informace skryté v difrakčním záznamu.
10. Aplikace difrakčních metod. Kvalitativní a kvantitativní difrakční analýza, určování mřížkových parametrů polykrystalických látek.
11. Měření velikosti krystalitů, studium mikroskopických napětí. Využití RTG difrakční analýzy pro studium textur.
12. RTG difrakční analýza za vysokých teplot a tlaků.
13. Využití Rietveldovy metody pro kvantitativní fázovou analýzu.
14. Neutronová difrakční analýza – zdroje neutronů, difrakční experiment, příklady využití neutronové difrakční analýzy. Rentgenová tomografie, princip metody, praktické využití.

Literature

KRAUS, Ivo. Úvod do strukturní rentgenografie. 1. Praha: Academia, 1985. ISBN 21-014-85.
VALVODA, Václav. Základy strukturní analýzy. 1. Praha: Karolinum, 1992. ISBN 80-200-0280-4 .
WASEDA, Yoshio, Eiichiro MATSUBARA a Kozo SHINODA. X-Ray Diffraction Crystallography. 1. Berlin: Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2011. ISBN 978-3-642-16635-8 .

Advised literature

KRAUS, Ivo a Nikolaj GANEV. Technické aplikace difrakční analýzy. 1. Praha: Vydavatelství ČVUT, 2004. ISBN 80-010-3099-7 .
ZAMARSKÝ, Vítězslav, Helena RACLAVSKÁ a Dalibor MATÝSEK. Mineralogie a krystalografie pro FMMI. Ostrava: VŠB - Technická univerzita, 2008. ISBN 978-80-248-1904-4.
SURYANARAYANA, C. a M. GRANT NORTON. X-Ray Diffraction A Practical Approach. 1. New York: Springer US, 1998. ISBN 978-0-306-45744-9 .