Úkolem předmětu je představit vybrané metody pro specifikaci fyzikálních parametrů materiálů, konkrétně se jedná o difrakční (rentgenová difrakce), mikroskopické (skenovací a transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních a magnetických sil), magnetické (vibrační magnetometrie), magneto-optické a nukleární spektroskopické (Mossbauerova spektroskopie) metody.
Ukončeno v akademickém roce 2017/2018
Metody analýzy materiálů
| Typ studia | navazující magisterské |
|---|---|
| Jazyk výuky | čeština |
| Kód | 717-3729/01 |
| Zkratka | MAM |
| Název předmětu česky | Metody analýzy materiálů |
| Název předmětu anglicky | Methods of material characterization |
| Kreditů | 6 |
| Garantující katedra | Katedra fyziky |
| Garant předmětu | prof. Ing. Ondřej Životský, Ph.D. |
Osnova předmětu
Povinná literatura
1. Principles of Condensed Matter Physics, P.M. Chaikin, T. C. Lubensky, Cambridge Press, (2000).
2. Solid State Physics, N. Ashcroft, N. Mermin, Cengage Learning (1976).
3. J. Stohr, H.C. Siegmann, Magnetism: from Fundamentals to Nanoscale Dynamics, Springer (2006).
2. Solid State Physics, N. Ashcroft, N. Mermin, Cengage Learning (1976).
3. J. Stohr, H.C. Siegmann, Magnetism: from Fundamentals to Nanoscale Dynamics, Springer (2006).
Doporučená literatura
Akhlesh Lakhtakia: The Handbook of Nanotechnology. Nanometer Structures: Theory, Modeling, and Simulation, ISBN: 0-8194-5186-X (2004); Todd Steiner: Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Applications, ISBN: 1-58053-751-0 (2004); Robert Kelsall (Editor), Ian W. Hamley (Editor), Mark Geoghegan (Editor): Nanoscale Science and Technology, ISBN: 0-470-85086-8 (2005). Michael Rieth, Wolfram Schommers: Handbook of Theoretical and Computational Nanotechnology, 10-Volume Set, ASP-American Scientific Publishers, ISBN: 1-58883-042-X (2005).