1. Úvod (12,13)
Obecné zákonitosti užití záření v technických měřících metodách, záření
vlnového a korpuskulárního charakteru, foton, částice, de Broglieho
hypotéza.
2. Základní vlastnosti elektromagnetického záření (13)
Maxwellův popis elmag.záření, vlnová rovnice, Huygensův princip, elektrický
dipól jako elementární zářič, spektrum elmag. vln, Bohrův model atomu
a vznik spekter, nekoherentní a koherentní zářiče, polarizace záření,
princip činnosti laseru, odraz, lom, absorpce, interference a ohyb záření.
3. Základy interferometrie (2,3)
Interferenční komparátory (Michelson, Metra), refraktometry (Rayleigh, Mach-
Zehnder, Jamin), spektroskopy (Fabry-Perotův, Fizeaův), interferenční
mikroskop. Měření malých deformací a přemístění, délková měření. Kontrola
tvaru a nerovností povrchu. Měření indexu lomu, určení nehomogenit
prostředí. Měření vlnové délky, měření tlouštěk tenkých vrstev.
4. Zviditelňování fyzikálních polí (4)
Interferenční metody, šlírová metoda a fotoelesticimetrie, metoda fázového
kontrastu, Moire metody.Modelové vyšetřování vnitřních napětí. Sledování
povrchu, nehomogenit. Zkoumání zviditelněných tepelných, rychlostních,
elektrických a magnetických polí.
5. Holografické metody a speckle metody (5,9)
Záznam a rekonstrukce hologramu, základní typy hologramů, metody dvojího
osvitu, kontinuální expozice a reálného času, mikroholografie. Princip
speckleinterferometrie. Holografická ineterferometrie průhledných objektů,
zkoumání nehomogenit, měření tepelných a tlakových deformací uvnitř
objektu.
Holografická interferometrie neprůhledných objektů, stanovení vnitřních
nehomogenit, měření napětí a deformací. Určování tvaru a odchylek povrchu.
Holografická analýza kmitajících objektů, určování kritických míst.
Kontrola povrchu.
6. Fotometrie (8)
Fotometry a spektrální fotometry. Stanovení základních fotometrických
veličin, propustnosti, odrazivosti, absorbce, extinkce a disperse
prostředí. Stanovení barevnosti a barvy. Měření koncentrace, identifikace
látky.
7. Optická mikroskopie (8,11)
Optický mikroskop, mikroskopie neprůhledných předmětů, temné pole,
polarizační mikroskopie, fluorescennční mikroskopie, fázové předměty.
Identifikace materiálu, jemná struktura, kontrola povrchu, vnitřku a tvaru,
měření tenkých vrstev.
8. Spektroskopie (10)
Klasické a laserové spektroskopy a spektrografy, interferenční
spektrografy.
Ramanova spektroskopie, luminscenční spektroskopie, Mossbauerův jev,
hmotnostní spektroskopie. Spektrální kvalitativní a kvantitivní analýza,
identifikace látky a jejích parametrů.
9. Ultrazvukové metody (6)
Vznik a šíření ultrazvukové vlny, závislost její rychlosti na prostředí
a jeho fyzikálních parametrech, útlum, odraz a lom vlny. Základní měřící
metody.
Měření mechanických vlastností prostředí, stanovení tlouštky, vyhledávání
vnitřních defektů a nehomogenit, hladinoměry a průtokoměry.
10. Částicové a radioaktivní záření (7)
Přehled využívaných druhů korpuskulárního a jaderného záření, jejich zdroje
a parametry. Interakce těchto záření s látkou. Neutronová a radiační
defektoskopie, princip radiaktivního datování, tlouštkoměry, hladinoměry
a průtokoměry.
11. Elektronová mikroskopie (8)
Elektrická a magnetická čočka, konstrukce mikroskopu na průchod a na odraz,
rozlišovací schopnost. Elektronová difrakce. Identifikace látky a jejich
parametrů.
Obecné zákonitosti užití záření v technických měřících metodách, záření
vlnového a korpuskulárního charakteru, foton, částice, de Broglieho
hypotéza.
2. Základní vlastnosti elektromagnetického záření (13)
Maxwellův popis elmag.záření, vlnová rovnice, Huygensův princip, elektrický
dipól jako elementární zářič, spektrum elmag. vln, Bohrův model atomu
a vznik spekter, nekoherentní a koherentní zářiče, polarizace záření,
princip činnosti laseru, odraz, lom, absorpce, interference a ohyb záření.
3. Základy interferometrie (2,3)
Interferenční komparátory (Michelson, Metra), refraktometry (Rayleigh, Mach-
Zehnder, Jamin), spektroskopy (Fabry-Perotův, Fizeaův), interferenční
mikroskop. Měření malých deformací a přemístění, délková měření. Kontrola
tvaru a nerovností povrchu. Měření indexu lomu, určení nehomogenit
prostředí. Měření vlnové délky, měření tlouštěk tenkých vrstev.
4. Zviditelňování fyzikálních polí (4)
Interferenční metody, šlírová metoda a fotoelesticimetrie, metoda fázového
kontrastu, Moire metody.Modelové vyšetřování vnitřních napětí. Sledování
povrchu, nehomogenit. Zkoumání zviditelněných tepelných, rychlostních,
elektrických a magnetických polí.
5. Holografické metody a speckle metody (5,9)
Záznam a rekonstrukce hologramu, základní typy hologramů, metody dvojího
osvitu, kontinuální expozice a reálného času, mikroholografie. Princip
speckleinterferometrie. Holografická ineterferometrie průhledných objektů,
zkoumání nehomogenit, měření tepelných a tlakových deformací uvnitř
objektu.
Holografická interferometrie neprůhledných objektů, stanovení vnitřních
nehomogenit, měření napětí a deformací. Určování tvaru a odchylek povrchu.
Holografická analýza kmitajících objektů, určování kritických míst.
Kontrola povrchu.
6. Fotometrie (8)
Fotometry a spektrální fotometry. Stanovení základních fotometrických
veličin, propustnosti, odrazivosti, absorbce, extinkce a disperse
prostředí. Stanovení barevnosti a barvy. Měření koncentrace, identifikace
látky.
7. Optická mikroskopie (8,11)
Optický mikroskop, mikroskopie neprůhledných předmětů, temné pole,
polarizační mikroskopie, fluorescennční mikroskopie, fázové předměty.
Identifikace materiálu, jemná struktura, kontrola povrchu, vnitřku a tvaru,
měření tenkých vrstev.
8. Spektroskopie (10)
Klasické a laserové spektroskopy a spektrografy, interferenční
spektrografy.
Ramanova spektroskopie, luminscenční spektroskopie, Mossbauerův jev,
hmotnostní spektroskopie. Spektrální kvalitativní a kvantitivní analýza,
identifikace látky a jejích parametrů.
9. Ultrazvukové metody (6)
Vznik a šíření ultrazvukové vlny, závislost její rychlosti na prostředí
a jeho fyzikálních parametrech, útlum, odraz a lom vlny. Základní měřící
metody.
Měření mechanických vlastností prostředí, stanovení tlouštky, vyhledávání
vnitřních defektů a nehomogenit, hladinoměry a průtokoměry.
10. Částicové a radioaktivní záření (7)
Přehled využívaných druhů korpuskulárního a jaderného záření, jejich zdroje
a parametry. Interakce těchto záření s látkou. Neutronová a radiační
defektoskopie, princip radiaktivního datování, tlouštkoměry, hladinoměry
a průtokoměry.
11. Elektronová mikroskopie (8)
Elektrická a magnetická čočka, konstrukce mikroskopu na průchod a na odraz,
rozlišovací schopnost. Elektronová difrakce. Identifikace látky a jejich
parametrů.