Terminated in academic year 2009/2010

Laboratory practice in microscopy

Type of study	Follow-up Master
Language of instruction	Czech
Code	730-0144/01
Abbreviation	LCM
Course title	Laboratory practice in microscopy
Credits	3
Coordinating department	Nanotechnology centre
Course coordinator	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.

Subject syllabus

- Příprava vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii. Příprava uhlíkových
replik, extrakčních replik a tenkých kovových fólií. Příprava práškových
vzorků.
- Transmisní elektronová mikroskopie. Zobrazení ve světlém a tmavém poli.
Zobrazení krystalové mřížky a struktury. Studium vybraných kovových,
nekovových a práškových vzorků.
- Příprava vzorků pro skenovací elektronovou mikroskopii. Řezání, broušení,
leštění vzorků, naprašování vrstvou kovu a uhlíku.
- Skenovací elektronová mikroskopie. Zobrazení v režimu sekundárních a
odražených elektronů. Analýza lomových ploch, struktury materiálů a
morfologie práškových materiálů.
- Rentgenová mikroanalýza. Bodová analýza inkluzí v kovových materiálech
a rozdílných fází v kovových i nekovových materiálech. Liniový a plošná
analýza fázových rozhraní a povr-chových vrstev.
- Měření vzorků metodou AFM v kontaktním režimu. Měření povrchů polovodičů
a mikro-vpichů na povrchu oceli.
- Měření vzorků metodou AFM v nekontaktním režimu. Měření částic vybraných
práškových vzorků (fylosilikáty, oxidy).
- Vyhodnocení a úprava dat získaných z AFM. Vyhodnocení pomocí programu
SPMLab. Vyhodnocení a úprava dat pomocí programu Gwyddion.

Literature

JONŠTA Z., VODÁREK V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU
Ostrava, 1999;
JANDOŠ F., ŘÍMAN R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii,.
SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ V., JUREK K.: Zkoumání látek elektronovým
paprskem. SNTL, Praha, 1982
YAO, N., WANG, Z., L.(editors): Handbook of Microscopy for Nanotechnology.
Kluwer Academic Publishers, 2005, 731p. ISBN 1-4020-8003-4; BONNELL, D.
editor: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and
Applications. Wiley-VCH, 2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H.,
J., BENNEWITZ, R.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer,
2004, 210p. ISBN 3-540-43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.:
Mikroskopie Skenující Sondou. Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80-
244-0602-0.
Výukové materiály k laboratorním úlohám budou k dispozici v české a anglické
verzi.

Advised literature

No advised literature has been specified for this subject.

back to search page