Přednášky:
Modelování elektronických obvodů, návrh konečných automatů, využití knihovních prvků VHDL při návrhu hradlových polí. Návrh testů elektronických obvodů, deterministické, pseudonáhodné a heuristické testy, využití v biomedicíně.
Návrh obvodů se snadným testováním, autonomně testované obvody, podpora návrhu architektury, automatizace návrhu testů, jazyk BSDL, podpora testování přístrojovou technikou, logické analyzátory. Návrh architektur s vysokým stupněm paralelismu.
Modelování poruch na úrovni modelů chování, porovnání aritmetických a data-flow modelů chování, jejich interpretace při překladu do struktury hradlového pole, překlad modelů chování do různých architektur (re-targeting).
Teorie pseudonáhodného generování testovacích vektorů, užití uživatelem specifikovaných datových registrů ve struktuře Boundary-Scan Test architektury. Vyhodnocování kvality autonomního testu pomocí zkušebních programů (benchmark).
Návrh testovacích struktur regulárních obvodů CPLD, prostředky pro snadné testování a pro autonomní testování, vyhodnocování výsledků testů regulárních obvodů, poruchy vzniklé chybným programováním a jejich rozpoznání.
Návrh systémových testů v systémech se snadným testováním, vyhodnocování autonomních testů, komprimace odezev, pokrytí poruchy testem, náklady na testování, technologičnost výroby a vyhodnocování testů, zabezpečení proti vlivu poruch (current testing), spolehlivost.
Testování analogových a smíšených obvodů, modelování poruch analogových obvodů, metody vyhodnocování testů analogových obvodů, vestavěné struktury pro snadné testování analogových obvodů, vyhodnocování testů pomocí neuronových
sítí.
Projekty:
Ke zkoušce je požadován projekt, který představuje komplexní smíšený systém.
Modelování elektronických obvodů, návrh konečných automatů, využití knihovních prvků VHDL při návrhu hradlových polí. Návrh testů elektronických obvodů, deterministické, pseudonáhodné a heuristické testy, využití v biomedicíně.
Návrh obvodů se snadným testováním, autonomně testované obvody, podpora návrhu architektury, automatizace návrhu testů, jazyk BSDL, podpora testování přístrojovou technikou, logické analyzátory. Návrh architektur s vysokým stupněm paralelismu.
Modelování poruch na úrovni modelů chování, porovnání aritmetických a data-flow modelů chování, jejich interpretace při překladu do struktury hradlového pole, překlad modelů chování do různých architektur (re-targeting).
Teorie pseudonáhodného generování testovacích vektorů, užití uživatelem specifikovaných datových registrů ve struktuře Boundary-Scan Test architektury. Vyhodnocování kvality autonomního testu pomocí zkušebních programů (benchmark).
Návrh testovacích struktur regulárních obvodů CPLD, prostředky pro snadné testování a pro autonomní testování, vyhodnocování výsledků testů regulárních obvodů, poruchy vzniklé chybným programováním a jejich rozpoznání.
Návrh systémových testů v systémech se snadným testováním, vyhodnocování autonomních testů, komprimace odezev, pokrytí poruchy testem, náklady na testování, technologičnost výroby a vyhodnocování testů, zabezpečení proti vlivu poruch (current testing), spolehlivost.
Testování analogových a smíšených obvodů, modelování poruch analogových obvodů, metody vyhodnocování testů analogových obvodů, vestavěné struktury pro snadné testování analogových obvodů, vyhodnocování testů pomocí neuronových
sítí.
Projekty:
Ke zkoušce je požadován projekt, který představuje komplexní smíšený systém.