1. Defektoskopie izotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky).
2. Defektoskopie anizotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky).
3. Defektoskopie tenkých vrstev a struktur metodou reflektometrie, polarimetrie a interferometrie (měření tloušťky, popř. geometrie struktury).
4. Defektoskopie tenkých vrstev metodou optické mikroskopie.
5. Defektoskopie optických vláken metodami optické interferometrie.
6. Fyzikální úvod do magnetické defektoskopie.
7. Magnetická defektoskopie ocelových lan a trubek (zjišťování stavu lan) metodou rozptylových toků.
8. Magnetická defektoskopie s pomocí vířivých proudů.
2. Defektoskopie anizotropních vzorků metodou interferometrie (měření disperze, popř. tloušťky).
3. Defektoskopie tenkých vrstev a struktur metodou reflektometrie, polarimetrie a interferometrie (měření tloušťky, popř. geometrie struktury).
4. Defektoskopie tenkých vrstev metodou optické mikroskopie.
5. Defektoskopie optických vláken metodami optické interferometrie.
6. Fyzikální úvod do magnetické defektoskopie.
7. Magnetická defektoskopie ocelových lan a trubek (zjišťování stavu lan) metodou rozptylových toků.
8. Magnetická defektoskopie s pomocí vířivých proudů.