LITERATURA pro 516 909/01:
(1) Sochor,V.: Lasery a koherentní svazky, Academia, Praha 1990
(2) Zacharevskij,A.,N.:Interferometery, Moskva 1952
(3) Fuka,J.-Havelka,B.: Optika, SPN, Praha 1961
(4) Sequens,J.: Technika zviditelňování fyzikálních polí, Academia,Praha 1980
(5) Baleš,J.-Szabó,V.: Holografická interferometria v experimentalnej
mechanike, Veda, Bratislava 1986
(6) Obraz,J.: Ultrazvuk v měřící technice, SNTL, Praha 1984
(7) Klujev,V.,V.: Pribory dlja nerazrušajuščego kontrolja materialovi
rozdelij, Mašinostrojenije, Moskva 1986
(8) Brož,J.: Základy fyzikálních měření II. SPedN, Praha 1961
(9) Jones,S,R.-Wykes,V.: Holographic nad Speckle Interferometry, Cambridge
University Press, Cambridge 1985
(10)Kováč,S.-Illavský,D.-Leško,J.: Metody kontroly technologických procesov.
Spektrálne metody v organickej chemii a technologii. Alfa, Bratislava 1987
(11)Pluta,M.: Advanced Light Microscopy. PWN, Warszava 1988
(12)Arfken,G.,B.-Griffing,D.,F.-Kelly,D.,C.: University Physics, Academia
Press,N.Y.1984
(13)Kopečný, J.: Fyzika IIa, IIb, VŠB, Ostrava 2000
LITERATURA pro 516 909/02:
1. SOCHOR,V. Lasery a koherentní svazky. Praha: Academia, 1990.
2. ZACHAREVSKIJ, A. N. Interferometery. Moskva, 1952.
3. FUKA, J.; HAVELKA, B. Optika. Praha: SPN, 1961.
4. SEQUENS, J. Technika zviditelňování fyzikálních polí. Praha: Academia, 1980.
5. BALEŠ, J.; SZABÓ,V. Holografická interferometria v experimentalnej
mechanike. Bratislava: Veda, 1986.
6. OBRAZ, J. Ultrazvuk v měřící technice. Praha: SNTL, 1984.
7. KLUJEV,V. V. Pribory dlja nerazrušajuščego kontrolja materialovi rozdelij.
Moskva: Mašinostrojenije, 1986.
8. BROŽ, J. Základy fyzikálních měření II. Praha: SPedN, 1961.
9. JONES, S. R.; WYKES, V. Holographic nad Speckle Interferometry. Cambridge:
Cambridge University Press, 1985.
10.KOVÁČ, S.; ILLAVSKÝ, D.; LEŠKO, J. Metody kontroly technologických
procesov. Spektrálne metody v organickej chemii a technologii. Bratislava:
Alfa, 1987.
11.PLUTA, M. Advanced Light Microscopy. Warszava: PWN, 1988.
12.ARFKEN, G. B.; GRIFFING, D. F.; KELLY, D. C. University Physics. N.Y.:
Academia Press, 1984.
13.KOPEČNÝ, J. Fyzika IIa, Iib. Ostrava: VŠB, 2000.
14.ŠEDA, J. Použití ionizujícího záření v technice. Praha: ČVUT, 1973.
15.MUSÍLEK, L. Využití ionizujícího záření ve výzkumu. Praha: ČVUT, 1992.
Fyzikální principy technických měřicích metod
| Jazyk výuky | čeština |
|---|---|
| Kód | 516-0909 |
| Zkratka | FPTMM |
| Název předmětu česky | Fyzikální principy technických měřicích metod |
| Název předmětu anglicky | Physical Principles of Technical Measurement Methods |
| Garantující katedra | Institut fyziky |
| Garant předmětu | doc. RNDr. Jan Kopečný, CSc. |
Anotace
Základním cílem předmětu je poskytnout technicky orientovanému studujícímu
základní představy o fyzikálních principech na kterých je založena konstrukce
komerčních měřících a diagnostických přístrojů. Pochopení principů mu umožní
využít všech možností použití přístroje, případně je rozšířit, respektive
přístroj aplikovat i v oblastech nepředpokládaných v manuálu. Předmět je
omezen na principy metod využívajících záření v celém jeho spektru. Jedná se
tedy o základy interferometrie, zviditelňování polí, holografie, fotometrie,
mikroskopie, spektroskopie, ale i využití ultrazvuku částicového
a radioaktivního záření včetně elektronové mikroskopie.
základní představy o fyzikálních principech na kterých je založena konstrukce
komerčních měřících a diagnostických přístrojů. Pochopení principů mu umožní
využít všech možností použití přístroje, případně je rozšířit, respektive
přístroj aplikovat i v oblastech nepředpokládaných v manuálu. Předmět je
omezen na principy metod využívajících záření v celém jeho spektru. Jedná se
tedy o základy interferometrie, zviditelňování polí, holografie, fotometrie,
mikroskopie, spektroskopie, ale i využití ultrazvuku částicového
a radioaktivního záření včetně elektronové mikroskopie.
Povinná literatura
Doporučená literatura
K tomuto předmětu nebyla specifikována doporučená literatura.