Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku
Ukončeno v akademickém roce 2008/2009

Difrakční analýza materiálů

Typ studia magisterské
Jazyk výuky čeština
Kód 636-0069/02
Zkratka DAM
Název předmětu česky Difrakční analýza materiálů
Název předmětu anglicky Diffraction Analysis of Materials
Kreditů 5
Garantující katedra Katedra materiálového inženýrství
Garant předmětu prof. RNDr. Jaroslav Fiala, CSc.

Osnova předmětu

Přednášky:

1. Místo difrakční analýzy ve zkušebnictví, difrakční analýza krystalové
struktury, elementární výklad difrakce, uplatnění rtg difrakce v
nejrůznějších oblastech technologie a přírodních věd
2. Uplatnění rtg difrakce v nejrůznějších oborech technologie a v přírodních
vědách. Identifikace fázového složení pomocí databáze referenčních
difraktogramů
3. Identifikace fázového složení pomocí databáze referenčních difraktogramů
4. Podrobný výklad o experimentální technice rtg difrakční analýzy
polykrystalických materiálů
5. Podrobný výklad o experimentální technice rtg difrakční analýzy
polykrystalických materiálů. Kvantitativní analýza fázového složení kromě
teorie výpočtu absolutních intensit difrakcí
6. Kvantitativní analýza fázového složení kromě teorie výpočtu absolutních
intensit difrakcí
7. Ewaldova konstrukce a reciproká mřížka. Výpočet absolutních intensit
difrakcí (kromě extinkce)
8. Výpočet absolutních intensit difrakcí (kromě extinkce), makropnutí
9. Makropnutí, určování velikosti částic hrubozrného materiálu
10. Určování velikosti částic hrubozrného materiálu, teorie a praxe určování
velikosti částic jemnozrného materiálu (včetně extinkce)
11. Určování mikropnutí, tj. pnutí 2. a 3. druhu, texturní analýza
12. Texturní analýza, difrakční analýza monokrystalů
13. Difrakční analýza monokrystalů, difrakce elektronů a neutronů
14. Rtg spektrální analýza a defektoskopie

Cvičení:

1. Základní výpočty.
2. Přesné určování mřížkových parametrů.
3. Nestechiometrické sloučeniny.
4. Indexování difraktogramu.
5. Uspořádání tuhého roztoku.
6. Kvalitativní fázová analýza.
7. Kvantitativní fázová analýza.
8. Kvantitativní analýza pomocí vnějšího standardu.
9. Kvantitativní analýza pomocí vnitřního standardu.
10. Textura a velikost zrna.
11. Identifikace látek pomocí databáze ICDD. Část 1.
12. Identifikace látek pomocí databáze ICDD. Část 2.
13. Identifikace látek pomocí databáze ICDD. Část 3.
14. Vyhodnocování elektronových difraktogramů.

Povinná literatura

1. I. KRAUS: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha 1985, 235 s.
2. Z. JOHAN, R. ROTTER, E.SLÁNSKÝ: Analýza látek rentgenovými paprsky, SNTL,
Praha 1970, 258 s.
3. C. S. BARRETT: Struktura kovů, NČSAV, Praha 1959, 658 s.
4. V.VALVODA, M. POLCAROVÁ, P. LUKÁČ: Základy strukturní analýzy, Univerzita
Karlova, Praha 1992, 489 s.
5. C. WHISTON: X-ray Methods, John Wiley and Sons, Chichester 1987, 425 s.

Doporučená literatura

K tomuto předmětu nebyla specifikována doporučená literatura.