Metody charakterizace nanostruktur

Typ studia	doktorské
Jazyk výuky	angličtina
Kód	653-0953/02
Zkratka	MCHN
Název předmětu česky	Metody charakterizace nanostruktur
Název předmětu anglicky	Characterization methods of nanostructures
Kreditů	10
Garantující katedra	Katedra materiálového inženýrství a recyklace
Garant předmětu	doc. Dr. Mgr. Kamil Postava

Osnova předmětu

1. Elektronová mikroskopie nanostruktur (příprava vzorků, Skenovací elektronová mikroskopie, Transmisní elektronová mikroskopie, speciální metody zobrazování a postupy při mikroskopování)
2. Mikroskopie rastrovací sondou (Mikroskopie atomárních sil, Mikroskopie skenovací sondou, Mikroskopie magnetických sil, Skenovací optická mikroskopie v blízkém poli)
3. Metody založeny na rentgenovém záření (X-ray difrakce, X-ray fotoelektronová spektroskopie, EDS)
4. Optická spektroskopie nanostruktur (IR a Ramanova spektroskopie, UV-vis spektroskopie a fotoluminiscence, THz spektroskopie, Atomová absorpční spektroskopie a ICP spektroskopie pro elementární analýzu), hmotnostní spektroskopie, nuklearní magnetická rezonance
5. Termická analýza (Diferenční termická analýza, Diferencialni Skenovací Kalorimetrie, Termogravitometrie, simultánní TG/DTA/DSC)
6. Velikost a tvarovitost nanočástic, povrch a porozita (Dynamický rozptyl světla, Laserová difrakce, chromatografie, BET)
7. Organická analýza pro charakterizaci nanostruktur (rozměrově-vylučovací chromatografie, superkritická fluidní, plynová a kapalinová chromatografie, hmotnostní detektory v chromatografii, elektromigrační metody)

Povinná literatura

S. Myhra, J. C. Rivière, Characterization of Nanostructures, CRC Press 2016
D.Brabazon and A.Raffer, Advanced Characterization Techniques for Nanostructures, In: Emerging Nanotechnologies for Manufacturing, Edited by: W. Ahmed and M. J. Jackson, William Andrew Publ. 2009
A. L. Da Róz, M. Ferreira, O. N. Oliveira, Jr., Nanocharacterization Techniques, 2017
S. T. Raju, T, Ajesh Z. R. Kumar, Microscopy Methods in Nanomaterials Characterization, Elsevier 2017
R. Haight, J. B Hannon, Handbook of Instrumentation and Techniques for Semiconductor Nanostructure Characterization, World Scientific 2011
E. Lundanes, L. Reubsaet, T. Greibrokk, Chromatography, basic Principles, Sample Preparations and Related Methods, J. Wiley and Sons, 2014
L. Eckertová, L. Frank a A. Delong ed. Metody analýzy povrchů: elektronová mikroskopie a difrakce. Praha: Academia, 1996.
L. Frank ed., Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody, Praha: Academia, 2002.

Doporučená literatura

B. Bhushan (Ed.), Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology, Sprnger 2010
B. Voigtländer, Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology), Springer 2015
S. Svanberg, Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and practical applications, Springer-Verlag, Berlin 1991
P. Griffiths, J. A. De Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry (Chemical Analysis: A Series of Monographs on Analytical Chemistry and Its Applications), Wiley 2nd. Ed, 2007
N. Yao, Z. L. Wang, Handbook of Microscopy for Nanotechnology (Nanostructure Science and TX‐Rays in Nanoscience: Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniquesechnology), Springer 2005
J. Guo, X‐Rays in Nanoscience: Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniques, Willey 2010
M. F. Vitha, Chromatography: Principles and Instrumentation, J. Wiley and Sons, 2017

zpět na vyhledávání