HOLLAS, J. M., Modern Spectroscopy (4th ed.), John Willey & Sons, 2009.
FOX, M., Optical properties of solids, Oxford Univ. Press, 2003.
SVANBERG, S.: Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and practical
applications, Springer-Verlag, Berlin 1991;
STENZEL, O., The physics of thin film optical spectra, Springer, Berlin, 2005;
Spektroskopie nanostruktur
| Jazyk výuky | angličtina, čeština |
|---|---|
| Kód | 717-3910 |
| Zkratka | SN |
| Název předmětu česky | Spektroskopie nanostruktur |
| Název předmětu anglicky | Spectroscopy of Nanostructures |
| Garantující katedra | Katedra fyziky |
| Garant předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava |
Anotace
Cílem předmětu je seznámit studenty se spektroskopickými metodami, které se
používají ke studiu nanostruktur, tenkých vrstev a nanostrukturovaných
periodických a kompozitních materiálů. Důraz je kladen na metody optické
spektroskopie, spektroskopické elipsometrie a magnetooptické spektroskopické
elipsometrie.
používají ke studiu nanostruktur, tenkých vrstev a nanostrukturovaných
periodických a kompozitních materiálů. Důraz je kladen na metody optické
spektroskopie, spektroskopické elipsometrie a magnetooptické spektroskopické
elipsometrie.
Povinná literatura
Doporučená literatura
PALIK, E. D., Handbook of optical constants of solids, Academic Press, New
York, 1998;
OHLÍDAL, I., FRANTA, D.: Ellipsometry of thin film systems, In: Progress in
Optics, Vol. 41, Ed. E. Wolf, 2000;
ZVEZDIN, A. K., KOTOV, V. A.: Modern magnetooptics and magnetooptical
materials, IOP, Bristol 1977;
York, 1998;
OHLÍDAL, I., FRANTA, D.: Ellipsometry of thin film systems, In: Progress in
Optics, Vol. 41, Ed. E. Wolf, 2000;
ZVEZDIN, A. K., KOTOV, V. A.: Modern magnetooptics and magnetooptical
materials, IOP, Bristol 1977;