Obsah přednášek:
Obsah předmětu je zaměřen především na detailnější poznatky o metodách rtg.
difrakční analýzy, ale je doplněn také současnými poznatky o krystalických
látkách, které jsou zmíněnými metodami analýzovány. Je rozdělen do
následujících tématických okruhů:
1. Krystal, krystalová struktura, krystalová mřížka.
2. Symetrie uspořádaných struktur (operace, prvky, grupy).
3. Atomová struktura krystalů.
4. Rentgenové záření a teorie difrakce.
5. Rentgenografické difrakční metody.
6. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza.
7. Indexace a určování mřížkových parametrů.
8. Vliv neuspořádanosti struktury a velikosti krystalitů na difrakční
obraz.
9. Analýza materiálů rtg. difrakcí - vybrané aplikace.
Základní studijní literatura:
I. Kraus: Struktura a vlastnosti krystalů. Academia, Praha, 1993.
I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha, 1985.
V. Valvoda, M. Polcarová, P.Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum,
UK Praha, 1992.
J. Chojnacki: Základy chemické a fyzikální krystalografie. Academia, 1979.
Cvičení:
1. Určování operací symetrie, prvků symetrie a rovinných grup symetrie na
dvojrozměrně periodických obrazech struktur.
2. Zobrazování trojrozměrných krystalových struktur programem MOLDRAW.
Porovnání meziatomárních vzdáleností u vybraných látek.
3. Výpočet krystalochemického vzorce z chemické analýzy.
4. Měření na práškovém difraktometru INEL. Příprava vzorku, seznámení se
systémem, pořízení difraktogramu, základní vyhodnocení.
5. Kvalitativní fázová difrakční analýza s použitím vybraných záznamů
standardních látek z databáze PDF ICDD.
6. Kvalitativní fázová difrakční analýza pomocí vyhledávacího
počítačového
systému a databáze PDF ICDD.
7. Kvantitativní fázová difrakční analýza metodou vnitřního standardu.
8. Výpočet rtg. difrakčních záznamů s využitím programů DIFK a LAZY
PULVERIX.
9. Přímá (bezstandardní) kvantitativní fázová analýza s využitím programu
XQPA.
10. Indexace a výpočet mřížkových parametrů kubické a tetragonální látky.
11. Určování průměrné lineární velikosti krystalitů.
Obsah předmětu je zaměřen především na detailnější poznatky o metodách rtg.
difrakční analýzy, ale je doplněn také současnými poznatky o krystalických
látkách, které jsou zmíněnými metodami analýzovány. Je rozdělen do
následujících tématických okruhů:
1. Krystal, krystalová struktura, krystalová mřížka.
2. Symetrie uspořádaných struktur (operace, prvky, grupy).
3. Atomová struktura krystalů.
4. Rentgenové záření a teorie difrakce.
5. Rentgenografické difrakční metody.
6. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza.
7. Indexace a určování mřížkových parametrů.
8. Vliv neuspořádanosti struktury a velikosti krystalitů na difrakční
obraz.
9. Analýza materiálů rtg. difrakcí - vybrané aplikace.
Základní studijní literatura:
I. Kraus: Struktura a vlastnosti krystalů. Academia, Praha, 1993.
I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha, 1985.
V. Valvoda, M. Polcarová, P.Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum,
UK Praha, 1992.
J. Chojnacki: Základy chemické a fyzikální krystalografie. Academia, 1979.
Cvičení:
1. Určování operací symetrie, prvků symetrie a rovinných grup symetrie na
dvojrozměrně periodických obrazech struktur.
2. Zobrazování trojrozměrných krystalových struktur programem MOLDRAW.
Porovnání meziatomárních vzdáleností u vybraných látek.
3. Výpočet krystalochemického vzorce z chemické analýzy.
4. Měření na práškovém difraktometru INEL. Příprava vzorku, seznámení se
systémem, pořízení difraktogramu, základní vyhodnocení.
5. Kvalitativní fázová difrakční analýza s použitím vybraných záznamů
standardních látek z databáze PDF ICDD.
6. Kvalitativní fázová difrakční analýza pomocí vyhledávacího
počítačového
systému a databáze PDF ICDD.
7. Kvantitativní fázová difrakční analýza metodou vnitřního standardu.
8. Výpočet rtg. difrakčních záznamů s využitím programů DIFK a LAZY
PULVERIX.
9. Přímá (bezstandardní) kvantitativní fázová analýza s využitím programu
XQPA.
10. Indexace a výpočet mřížkových parametrů kubické a tetragonální látky.
11. Určování průměrné lineární velikosti krystalitů.