Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku

Rentgenová difrakční analýza

Summary

Obsah předmětu je zaměřen především ba detailnější poznatky o metodách rtg.
difrakční analýzy, ale je doplněn také současnými poznatky o krystalických
látkách, které jsou zmíněnými metodami analyzovány. Je rozdělen do
následujících tématických okruhů: Krystal, krystalová struktura, krystalová
mřížka, symetrie uspořádání struktur, atomová struktura krystalů, rentgenové
záření, teorie difrakce, rentgenografické difrakční metody, kvalitativní a
kvantitativní analýza, určování mřížkových parametrů, vliv neuspořádanosti
struktury a velikosti krystalů na difrakční obraz, praktické aplikace analýzy
materiálů uvedenými metodami.

Literature

Literatura:
Kraus I.: Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, Praha, 1993
Kraus I.: Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha, 1995
Valvoda V., Polcarová M., Lukáč P.: Základy strukturní analýzy, Karolinum, UK
Praha, 1992
Chojnacki J.: Základy chemické a fyzikální krystalografie, Academia, 1979

Advised literature

No advised literature has been specified for this subject.


Jazyk výuky čeština, čeština, čeština
Kód 730-0011
Zkratka
Název předmětu česky Rentgenová difrakční analýza
Název předmětu anglicky X-ray Diffraction Analysis
Garantující katedra Centrum nanotechnologií
Garant předmětu prof. RNDr. Pavla Čapková, DrSc.