KITTEL, Charles. Úvod do fyziky pevných látek. Přeložil Miloš MATYÁŠ. Praha: Academia, 1985.
AGRAWAL, Dinesh Chandra. Introduction to nanoscience and nanomaterials. Singapore: World Scientific, c2013. ISBN 978-981-4397-97-1.
MYHRA, Sverre a J. C. RIVIERE. Characterization of nanostructures. Boca Raton: CRC Press, c2013. ISBN 978-1-4398-5415-0.
MUSA, Sarhan M., ed. Nanoscale spectroscopy with applications. Boca Raton: CRC Press, c2014. ISBN 978-1-4665-6853-2.
Laboratorní cvičení z experimentálních metod studia nanomateriálů II
| Jazyk výuky | angličtina, čeština |
|---|---|
| Kód | 9360-0139 |
| Zkratka | LCVEM-II |
| Název předmětu česky | Laboratorní cvičení z experimentálních metod studia nanomateriálů II |
| Název předmětu anglicky | Laboratory Practice from Experimetnal Methods of Nanomaterials Study II |
| Garantující katedra | Centrum nanotechnologií |
| Garant předmětu | prof. RNDr. Richard Dvorský, Ph.D. |
Summary
Předmět navazuje na "Experimentální metody a nástroje pro nanotechnologie II" a je zaměřen na praktickou laboratorní aplikaci vybraných fyzikálních technik charakterizace nanostruktur.
Literature
Doporučená literatura
LENG, Yang. Materials characterization: introduction to microscopic and spectroscopic methods. 2nd ed. Weinheim: Wiley-VCH, c2013. ISBN 978-3-527-33463-6.
GOLDENBERG, P. David. A Guide to SAXS Data Processing with the Utah SAXS Tools with Special Attention to Slit Corrections and Intensity Calibration. Department of Biology University of Utah, c2012.
SCHNABLEGGER, Heimo a SINGH, Y. The SAXS guide. Anton Paar GmbH, c2013. ISBN 180-120-13.
FULTZ, Brent a HOWE, James. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, Springer-Verlag Berlin, c2013. ISBN 978-3-642-29761-8 .
GOLDENBERG, P. David. A Guide to SAXS Data Processing with the Utah SAXS Tools with Special Attention to Slit Corrections and Intensity Calibration. Department of Biology University of Utah, c2012.
SCHNABLEGGER, Heimo a SINGH, Y. The SAXS guide. Anton Paar GmbH, c2013. ISBN 180-120-13.
FULTZ, Brent a HOWE, James. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, Springer-Verlag Berlin, c2013. ISBN 978-3-642-29761-8 .