Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku
Ukončeno v akademickém roce 2019/2020

Metody strukturní a fázové analýzy nanomateriálů

Typ studia navazující magisterské
Jazyk výuky čeština
Kód 9360-0140/01
Zkratka STRAN
Název předmětu česky Metody strukturní a fázové analýzy nanomateriálů
Název předmětu anglicky Methods of structure and phase analysis of nanomaterials
Kreditů 3
Garantující katedra Centrum nanotechnologií
Garant předmětu doc. Mgr. Kateřina Mamulová Kutláková, Ph.D.

Osnova předmětu

1. Úvod, historie a základní pojmy (definice krystalu, mřížka, mřížkové parametry, Millerovy indexy, pseudosymetrie, krystalografické soustavy, typy buněk, reciproká mříž).
2. Symetrie uspořádaných struktur (operace, prvky, grupy), maticové reprezentace.
3. Bodová a prostorová symetrie, stereografická projekce, symbolika.
4. Základy krystalochemie, krystalizační procesy, poruchy v krystalech.
5. Rentgenové záření (vlastnosti, zdroje, druhy, interakce záření s látkou).
6. Teorie difrakce (Braggova rovnice, Laueho rovnice, Ewaldova konstrukce), strukturní faktory.
7. Monokrystalové difrakční metody.
8. Práškové difrakční metody.
9. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza.
10. Indexace a určování mřížkových parametrů.
11. Aplikace rentgenostrukturní analýzy (charakterizace připravených vzorků).

Povinná literatura

ČECH BARABASZOVÁ, Karla. Vybrané instrumentální metody analýzy materiálů a nanomateriálů. Brno: Akademické nakladatelství CERM, 2012. ISBN 978-80-7204-810-6.

DE GRAEF, Marc a Michael E MCHENRY. Structure of materials: an introduction to crystallography, diffraction and symmetry. 2nd ed., fully rev. and updated. New York: Cambridge University Press, 2012. ISBN 978-1-107-00587-7.

Doporučená literatura

CHUNG, Frank H a Deane Kingsley SMITH, ed. Industrial applications of X-ray diffraction. New York: Marcel Dekker, c2000. ISBN 0-8247-1992-1.