Metody strukturní a fázové analýzy nanomateriálů

Typ studia	navazující magisterské
Jazyk výuky	angličtina
Kód	9360-0140/04
Zkratka	STRAN
Název předmětu česky	Metody strukturní a fázové analýzy nanomateriálů
Název předmětu anglicky	Methods of structure and phase analysis of nanomaterials
Kreditů	4
Garantující katedra	Centrum nanotechnologií
Garant předmětu	doc. Mgr. Kateřina Mamulová Kutláková, Ph.D.

Osnova předmětu

1. Úvod, historie a základní pojmy. Předmětem první přednášky bude definice krystalu, mřížka, mřížkové parametry, Millerovy indexy, krystalografické soustavy, typy buněk, reciproká mříž.
2. Cílem druhé přednášky bude seznámit studenty se symetrií uspořádaných struktur (operace, prvky, grupy), maticové reprezentace.
3. Třetí přednáška bude zaměřena na bodovou symetrii. Stereografická projekce. Symbolika bodových grup.
4. Předmětem další přednášky bude prostorová symetrie a symbolika prostorových grup.
5. Cílem páté přednášky bude seznámit studenty se základy krystalochemie. Budou diskutovány krystalizační procesy a poruchy v krystalech.
6. Šestá přednáška bude pojednávat o typech krystalových struktur. Typy iontových struktur, atomové a kovové krystaly.
7. Rentgenové záření. V sedmé přednášce budou prezentovány a diskutovány vlastnosti, zdroje, druhy rentgenového záření. Interakce záření s látkou.
8. V osmé přednášce bude diskutována teorie difrakce (Braggova rovnice, Laueho rovnice, Ewaldova konstrukce), strukturní faktory.
9. Cílem deváté přednášky bude seznámit studenty s teorií monokrystalové difrakční metody.
10. Cílem desáté přednášky bude seznámit studenty s teorií práškové difrakční metody.
11. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza. V další přednášce budou diskutovány základy kvalitativní a kvantitativní fázové analýzy.
12. Indexace a určování mřížkových parametrů.
13. Další přednáška bude zaměřena na aplikace rentgenostrukturní analýzy a charakterizace připravených vzorků.
14. Předmětem poslední přednášky bude seznámit studenty s Rietveldovou metodou kvantitativní fázové analýzy. Její využití v praxi.

Povinná literatura

ČECH BARABASZOVÁ, Karla. Vybrané instrumentální metody analýzy materiálů a nanomateriálů. Brno: Akademické nakladatelství CERM, 2012. ISBN 978-80-7204-810-6.

DE GRAEF, Marc a Michael E MCHENRY. Structure of materials: an introduction to crystallography, diffraction and symmetry. 2nd ed., fully rev. and updated. New York: Cambridge University Press, 2012. ISBN 978-1-107-00587-7.

Advised literature

CHUNG, Frank H a Deane Kingsley SMITH, ed. Industrial applications of X-ray diffraction. New York: Marcel Dekker, c2000. ISBN 0-8247-1992-1.

back to search page