S. Myhra, J. C. Rivière, Characterization of Nanostructures, CRC Press 2016
D.Brabazon and A.Raffer, Advanced Characterization Techniques for Nanostructures, In: Emerging Nanotechnologies for Manufacturing, Edited by: W. Ahmed and M. J. Jackson, William Andrew Publ. 2009
A. L. Da Róz, M. Ferreira, O. N. Oliveira, Jr., Nanocharacterization Techniques, 2017
S. T. Raju, T, Ajesh Z. R. Kumar, Microscopy Methods in Nanomaterials Characterization, Elsevier 2017
R. Haight, J. B Hannon, Handbook of Instrumentation and Techniques for Semiconductor Nanostructure Characterization, World Scientific 2011
E. Lundanes, L. Reubsaet, T. Greibrokk, Chromatography, basic Principles, Sample Preparations and Related Methods, J. Wiley and Sons, 2014
L. Eckertová, L. Frank a A. Delong ed. Metody analýzy povrchů: elektronová mikroskopie a difrakce. Praha: Academia, 1996.
L. Frank ed., Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody, Praha: Academia, 2002.
Metody charakterizace nanostruktur
| Jazyk výuky | angličtina, čeština |
|---|---|
| Kód | 9360-0227 |
| Zkratka | MCHN |
| Název předmětu česky | Metody charakterizace nanostruktur |
| Název předmětu anglicky | Characterization methods of nanostructures |
| Garantující katedra | Centrum nanotechnologií |
| Garant předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava |
Anotace
Předmět zahrnuje fyzikální a chemické analytické metody pro charaketrizaci nanostruktur, principy měření, hranice charaketrizačních metod a specifikcké aplikace. Konkrétní zaměření předmětu bude vybíráno v souladu se specializací studenta s tématem jeho disertační práce.
Povinná literatura
Doporučená literatura
B. Bhushan (Ed.), Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology, Sprnger 2010
B. Voigtländer, Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology), Springer 2015
S. Svanberg, Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and practical applications, Springer-Verlag, Berlin 1991
P. Griffiths, J. A. De Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry (Chemical Analysis: A Series of Monographs on Analytical Chemistry and Its Applications), Wiley 2nd. Ed, 2007
N. Yao, Z. L. Wang, Handbook of Microscopy for Nanotechnology (Nanostructure Science and TX‐Rays in Nanoscience: Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniquesechnology), Springer 2005
J. Guo, X‐Rays in Nanoscience: Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniques, Willey 2010
M. F. Vitha, Chromatography: Principles and Instrumentation, J. Wiley and Sons, 2017
B. Voigtländer, Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology), Springer 2015
S. Svanberg, Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and practical applications, Springer-Verlag, Berlin 1991
P. Griffiths, J. A. De Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry (Chemical Analysis: A Series of Monographs on Analytical Chemistry and Its Applications), Wiley 2nd. Ed, 2007
N. Yao, Z. L. Wang, Handbook of Microscopy for Nanotechnology (Nanostructure Science and TX‐Rays in Nanoscience: Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniquesechnology), Springer 2005
J. Guo, X‐Rays in Nanoscience: Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniques, Willey 2010
M. F. Vitha, Chromatography: Principles and Instrumentation, J. Wiley and Sons, 2017