Ukončeno v akademickém roce 2009/2010

Scanning probe microscopy and electron microscopy

Type of study	Follow-up Master
Language of instruction	Czech
Code	730-0143/01
Abbreviation	SPM+EM
Course title	Scanning probe microscopy and electron microscopy
Credits	3
Coordinating department	Nanotechnology centre
Course coordinator	doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.

Osnova předmětu

- Interakce elektronů s hmotou.
- Základní typy elektronových mikroskopů.
- Princip funkce transmisního elektronového mikroskopu.
- Příprava vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii.
- Princip funkce skenovacího elektronového mikroskopu..
- Analytické elektronové mikroskopy.
- Interakce iontového svazku s materiálem.
- Teoretické základy metod mikroskopie rastrovací sondou. (SPM).
- Skenovací tunelovací mikroskopie (STM).
- Mikroskopie atomárních sil (AFM).
- Ostatní metody SPM.

Povinná literatura

JONŠTA Z., VODÁREK V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU
Ostrava, 1999;
JANDOŠ F., ŘÍMAN R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii,.
SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ V., JUREK K.: Zkoumání látek elektronovým
paprskem. SNTL, Praha, 1982;
WATT, I., M.: The Principles and Practice of Electron Microscopy. Cambridge
University Press; 1997, 484p. ISBN 0-521-43456-4; YAO, N., WANG, Z., L.
(editors): Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic
Publishers, 2005, 731p. ISBN 1-4020-8003-4; BONNELL, D. editor: Scanning Probe
Microscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH,
2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H., J., BENNEWITZ, R.:
Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer, 2004, 210p. ISBN 3-540-
43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.: Mikroskopie Skenující Sondou.
Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80-244-0602-0.

Advised literature

No advised literature has been specified for this subject.

zpět na vyhledávání