JONŠTA Z., VODÁREK V.: Strukturně fázová analýza II. Texty PGS, VŠB-TU
Ostrava, 1999;
JANDOŠ F., ŘÍMAN R.: Využití moderních laboratorních metod v metalografii,.
SNTL, Praha, 1985; HULÍNSKÝ V., JUREK K.: Zkoumání látek elektronovým
paprskem. SNTL, Praha, 1982;
WATT, I., M.: The Principles and Practice of Electron Microscopy. Cambridge
University Press; 1997, 484p. ISBN 0-521-43456-4; YAO, N., WANG, Z., L.
(editors): Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Kluwer Academic
Publishers, 2005, 731p. ISBN 1-4020-8003-4; BONNELL, D. editor: Scanning Probe
Microscopy and Spectroscopy, Theory, Techniques and Applications. Wiley-VCH,
2001, 512p. ISBN 0-471-24824-X; MEYER, E., HUG, H., J., BENNEWITZ, R.:
Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip. Springer, 2004, 210p. ISBN 3-540-
43180-2; KUBÍNEK, R., VŮJTEK, M., MAŠLÁŇ, M.: Mikroskopie Skenující Sondou.
Vydavatelství PřF Olomouc, 2003, 145s. ISBN 80-244-0602-0.