Základním cílem předmětu je seznámit studenty se základy přípravy tenkých
vrstev, měření parametrů tenkých vrstev a povrchů, vlastností tenkých vrstev
a jejich aplikacemi. Důraz je kladen na optiku tenkých vrstev a povrchů,
optické měřící metody a aplikace v optice, magnetismus tenkých vrstev,
magnetické vlastnosti tenkých vrstev a magnetické aplikace.
Dále jsou zahrnuty elektrické vlastnosti tenkých vrstev. Zahrnuty jsou partie
zabývající se jednak technologií ultratenkých vrstev o tloušťkách v řádu
nanometru a jednak vrstev vhodných pro následné zpracování litografickými
metodami a nanostrukturovaním.
Povinná literatura
1) L. Eckertová, Fyzika tenkých vrstev, Populární přednášky o fyzice, Sv. 21.
2) J. Křepelka, Optika tenkých vrstev, UP Olomouc, 1993
3) H. A. Macleod, Thin-film optical filters, 2nd ed. Bristol, 1986
4) P. Yeh, Optical waves in layered media, Willey, New York 1988
5) R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and polarized light,
North-Holland, Amsterdam, 1977
Doporučená literatura
1) B. D. Cullity, Introduction to magnetic materials, Addison-Wesley, London