Základním cílem předmětu je seznámit studenty s metodami optických
spektroskopií, které se používají ke studiu tenkých vrstev
a nanostrukturovaných periodických a kompozitních materiálů. Důraz je kladen
na fyzikální principy optické spektroskopie, metody měření a zpracování
naměřených dat. Předmět zahrnuje metody transmisní a reflexní spektroskopie,
spektroskopické elipsometrie, infračervené spektroskopie a magnetooptické
spektroskopické elipsometrie.
Povinná literatura
1. SVANBERG, S. Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and
practical applications. Berlin: Springer-Verlag, 1991.
2. KLIGER, D. S.; Lewis, J. W.; Randall, C. E. Polarized light in optics
and spectroscopy. New York: Academic Press, 1990.
3. AZZAM, R. M. A.; BASHARA, N. M. Ellipsometry and polarized light.
Amsterdam: North-Holland, 1977.
Doporučená literatura
1. OHLÍDAL, I.; FRANTA, D. Ellipsometry of thin film systems. In Progress
in Optics. Vol. 41, Ed. E. Wolf, 2000.
2. Guide for spectroscopy. Jobin Yvon.
3. Články z časopisů - např. sborníky konferencí ICSE: Thin Solid Films
Vol. 234 (1993), Vol. 290-291 (1996), Vol. 455-456 (2004).