1. ÚVOD
2. HISTORICKÝ POHLED NA HODNOCENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
3. ZÁKLADNÍ POJMY
4. VYTVÁŘENÍ POVRCHU KONVENČNÍM A NEKONVENČNÍM ZPŮSOBEM
a) Fyzikální podstata vzniku nového povrchu
b) Stanovení teoretické drsnosti obrobku
c) Obrobitelnost materiálů ve vztahu k topografii povrchu
5. TOPOGRAFIE POVRCHU A JEJÍ VÝZNAM
a) Topografie povrchu a její význam v technologických procesech
b) Perspektivy a směry vývoje hodnocení topografie povrchu
c) Topografie povrchu jako ukazatel jakosti
d) Využití metody kvantitativního hodnocení topografie povrchu
e) Značení topografie povrchu na výkresech
6. KONTROLA TOPOGRAFIE POVRCHU
a) Systém rozdělení metod a přístrojů pro hodnocení a měření topografie
povrchu
b) Kvalitativní hodnocení topografie povrchu
c) Pomůcky pro zvyšování přesností vizuálního posuzování topografie povrchu
d) Spolehlivost kvalitativního posuzování topografie povrchu
e) Nepřímé kvantitativní měření topografie povrchu
f) Dotykové profiloměry s postupnou transformací profilu
g) Připojení mechanicko-elektrických snímačů k elektrické aparatuře
h) Volba základních délek pro měření topografie povrchu
i) Zapisovaní přístroje profilografů
j) Ověřování přesnosti elektrických dotykových profiloměrů
k) Příklady mechanicko-elektrických profiloměrů s různými základními druhy
snímačů
l) Přístroje s okamžitou transformací profilu
m) Použití plastických otisků pro měření topografie povrchu
7. OPTICKÉ METODY MĚŘENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
a) Teoretické principy optických metod a interakce světla s povrchem
b) Metoda vizualizace fázových rozdílů rozostřením
c) Metoda snímání stínového rozložení laserového světla
d) Metoda rozdělení intenzity rozptýleného laserového světla
e) Metoda úhlové korelace polí koherentní zrnitosti
f) Metoda mřížkové projekce
g) Metoda založená na chromatické aberaci čočky
h) Snímání kvality difuzně odrážejících povrchů
8. VYUŽITÍ ULTRAZVUKOVÝCH VLN PRO HODNOCENÍ POVRCHU A ROZHRANÍ
a) Ultrazvukové vlny v izotropním nekonečném prostředí
b) Povrchové akustické vlny
c) Fyzikální a technické aplikace různých typů povrchových akustických vln
9. KVANTITATIVNÍ HODNOCENÍ MIKROGEOMETRIE POVRCHU
a) Základní pojmy kvantitavního/kvalitativního hodnocení topografie povrchu
b) Normalizované charakteristiky topografie povrchu
c) Nenormalizované charakteristiky topografie povrchu
d) Trojrozměrné hodnocení topografie povrchu
e) Realizace statistické a spektrální analýzy profilu povrchu
10. TOPOGRAFIE POVRCHU A FUNKCE PLOCH SOUČÁSTÍ
a) Všeobecně o vlivech na volbu topografie povrchu
b) Vztah topografie a funkce
c) Vztah mezi topografií a rozměrovou tolerancí
11. VÝSTUPNÍ PODNIKOVÉ KONTROLY NA JAKOST POVRCHŮ
2. HISTORICKÝ POHLED NA HODNOCENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
3. ZÁKLADNÍ POJMY
4. VYTVÁŘENÍ POVRCHU KONVENČNÍM A NEKONVENČNÍM ZPŮSOBEM
a) Fyzikální podstata vzniku nového povrchu
b) Stanovení teoretické drsnosti obrobku
c) Obrobitelnost materiálů ve vztahu k topografii povrchu
5. TOPOGRAFIE POVRCHU A JEJÍ VÝZNAM
a) Topografie povrchu a její význam v technologických procesech
b) Perspektivy a směry vývoje hodnocení topografie povrchu
c) Topografie povrchu jako ukazatel jakosti
d) Využití metody kvantitativního hodnocení topografie povrchu
e) Značení topografie povrchu na výkresech
6. KONTROLA TOPOGRAFIE POVRCHU
a) Systém rozdělení metod a přístrojů pro hodnocení a měření topografie
povrchu
b) Kvalitativní hodnocení topografie povrchu
c) Pomůcky pro zvyšování přesností vizuálního posuzování topografie povrchu
d) Spolehlivost kvalitativního posuzování topografie povrchu
e) Nepřímé kvantitativní měření topografie povrchu
f) Dotykové profiloměry s postupnou transformací profilu
g) Připojení mechanicko-elektrických snímačů k elektrické aparatuře
h) Volba základních délek pro měření topografie povrchu
i) Zapisovaní přístroje profilografů
j) Ověřování přesnosti elektrických dotykových profiloměrů
k) Příklady mechanicko-elektrických profiloměrů s různými základními druhy
snímačů
l) Přístroje s okamžitou transformací profilu
m) Použití plastických otisků pro měření topografie povrchu
7. OPTICKÉ METODY MĚŘENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
a) Teoretické principy optických metod a interakce světla s povrchem
b) Metoda vizualizace fázových rozdílů rozostřením
c) Metoda snímání stínového rozložení laserového světla
d) Metoda rozdělení intenzity rozptýleného laserového světla
e) Metoda úhlové korelace polí koherentní zrnitosti
f) Metoda mřížkové projekce
g) Metoda založená na chromatické aberaci čočky
h) Snímání kvality difuzně odrážejících povrchů
8. VYUŽITÍ ULTRAZVUKOVÝCH VLN PRO HODNOCENÍ POVRCHU A ROZHRANÍ
a) Ultrazvukové vlny v izotropním nekonečném prostředí
b) Povrchové akustické vlny
c) Fyzikální a technické aplikace různých typů povrchových akustických vln
9. KVANTITATIVNÍ HODNOCENÍ MIKROGEOMETRIE POVRCHU
a) Základní pojmy kvantitavního/kvalitativního hodnocení topografie povrchu
b) Normalizované charakteristiky topografie povrchu
c) Nenormalizované charakteristiky topografie povrchu
d) Trojrozměrné hodnocení topografie povrchu
e) Realizace statistické a spektrální analýzy profilu povrchu
10. TOPOGRAFIE POVRCHU A FUNKCE PLOCH SOUČÁSTÍ
a) Všeobecně o vlivech na volbu topografie povrchu
b) Vztah topografie a funkce
c) Vztah mezi topografií a rozměrovou tolerancí
11. VÝSTUPNÍ PODNIKOVÉ KONTROLY NA JAKOST POVRCHŮ