Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku
Ukončeno v akademickém roce 2017/2018

Měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy

Typ studia doktorské
Jazyk výuky čeština
Kód 516-0947/02
Zkratka MTP
Název předmětu česky Měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy
Název předmětu anglicky Measurement of Topography of Surfaces Created by Various Technological Processes
Kreditů 10
Garantující katedra Institut fyziky
Garant předmětu doc. Ing. Jan Valíček, Ph.D.

Osnova předmětu

1. ÚVOD
2. HISTORICKÝ POHLED NA HODNOCENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
3. ZÁKLADNÍ POJMY
4. VYTVÁŘENÍ POVRCHU KONVENČNÍM A NEKONVENČNÍM ZPŮSOBEM
a) Fyzikální podstata vzniku nového povrchu
b) Stanovení teoretické drsnosti obrobku
c) Obrobitelnost materiálů ve vztahu k topografii povrchu
5. TOPOGRAFIE POVRCHU A JEJÍ VÝZNAM
a) Topografie povrchu a její význam v technologických procesech
b) Perspektivy a směry vývoje hodnocení topografie povrchu
c) Topografie povrchu jako ukazatel jakosti
d) Využití metody kvantitativního hodnocení topografie povrchu
e) Značení topografie povrchu na výkresech
6. KONTROLA TOPOGRAFIE POVRCHU
a) Systém rozdělení metod a přístrojů pro hodnocení a měření topografie
povrchu
b) Kvalitativní hodnocení topografie povrchu
c) Pomůcky pro zvyšování přesností vizuálního posuzování topografie povrchu
d) Spolehlivost kvalitativního posuzování topografie povrchu
e) Nepřímé kvantitativní měření topografie povrchu
f) Dotykové profiloměry s postupnou transformací profilu
g) Připojení mechanicko-elektrických snímačů k elektrické aparatuře
h) Volba základních délek pro měření topografie povrchu
i) Zapisovaní přístroje profilografů
j) Ověřování přesnosti elektrických dotykových profiloměrů
k) Příklady mechanicko-elektrických profiloměrů s různými základními druhy
snímačů
l) Přístroje s okamžitou transformací profilu
m) Použití plastických otisků pro měření topografie povrchu
7. OPTICKÉ METODY MĚŘENÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
a) Teoretické principy optických metod a interakce světla s povrchem
b) Metoda vizualizace fázových rozdílů rozostřením
c) Metoda snímání stínového rozložení laserového světla
d) Metoda rozdělení intenzity rozptýleného laserového světla
e) Metoda úhlové korelace polí koherentní zrnitosti
f) Metoda mřížkové projekce
g) Metoda založená na chromatické aberaci čočky
h) Snímání kvality difuzně odrážejících povrchů
8. VYUŽITÍ ULTRAZVUKOVÝCH VLN PRO HODNOCENÍ POVRCHU A ROZHRANÍ
a) Ultrazvukové vlny v izotropním nekonečném prostředí
b) Povrchové akustické vlny
c) Fyzikální a technické aplikace různých typů povrchových akustických vln
9. KVANTITATIVNÍ HODNOCENÍ MIKROGEOMETRIE POVRCHU
a) Základní pojmy kvantitavního/kvalitativního hodnocení topografie povrchu
b) Normalizované charakteristiky topografie povrchu
c) Nenormalizované charakteristiky topografie povrchu
d) Trojrozměrné hodnocení topografie povrchu
e) Realizace statistické a spektrální analýzy profilu povrchu
10. TOPOGRAFIE POVRCHU A FUNKCE PLOCH SOUČÁSTÍ
a) Všeobecně o vlivech na volbu topografie povrchu
b) Vztah topografie a funkce
c) Vztah mezi topografií a rozměrovou tolerancí
11. VÝSTUPNÍ PODNIKOVÉ KONTROLY NA JAKOST POVRCHŮ

Povinná literatura

1. BUMBÁLEK, B., ODVODY, V., OŠŤÁDAL, B. Drsnost povrchu. Praha : SNTL,
1989.
2. BÁTORA, B., VASILKO, K. Obrobené povrchy. Technologická dědičnosť,
funkčnosť. Trenčín : TU, 2000, 184 s. ISBN 80-88914-19-1.
3. BECKMANN, P., SPIZZICHINO, A. The Scattering of Electromagnetic waves
from Rough Surfaces. Oxford : Pergamon, 1963, 503 s. ISBN 63-10-108.
4. BEČKA, J. Tribologie. Praha : ČVUT, 1997, 213 s. ISBN 80-01-01621-8.
5. BEŇO, J., MAŇKOVÁ, I. Technologické a materiálové činitele obrábania.
Strojnícka fakulta TU, (kap. 7 Monitorizácia obrábania), Košice, 2004. ISBN-80-
7099-701-X.
6. DUPARRÉ, A., et al. Surface characterization techniques for tetermining the
root-mean-square roughness and power spectral densities of optical
components. Applied optics, 2002, vol. 41, no. 1, p. 154-171. ISSN 0003-6935 .
7. CHIFFRE, L., et al. Quantitative characterisation of surface texture. CIRP
Annals - Manufacturing Technology, 2000, vol. 49, no. 2, p. 635-652. ISSN
0007-8506.

Doporučená literatura

1. CHUDÝ, V., PALENČÁR, R., KUREKOVÁ, E., HALAJ, M. Meranie technických
veličín. Bratislava : STU, 1999, 688 s.
2. MAŇKOVÁ, I. Progresívne technológie. Košice : Vienala, 2000. ISBN 80-7099-
430-4.
3. OGILVY, J. A. Theory of waves scattering from random rough surfaces. Bristol,
IOP Publishing Ltd., 1992. 272 s. ISBN 0-7503-0063-9 .
4. THOMAS, T.R. Rough surfaces. London and New York : Longman, 1982, 261 s.
ISBN 0-582-46816-7 .
5. TŮMA, J. Zpracování signálů získaných z mechanických systémů užitím FFT.
Praha : Sdělovací technika, 1997, 174 s. ISBN 80-901936-1-7.
6. VALLIANT, J.G., FOLEY, M.P., BENNETT, J.M. Instrument for on-line
monitoring of surface roughness of machined surfaces. Optical Engineering,
2000, vol. 39, no. 12, p. 3247-3254. ISSN 0091-3286 .
7. VASILKO, K. Analytická teória trieskového obrábania. Prešov : Fakulta
výrobných technologií TU v Košiciach, 2007, 338 s. ISBN 987-80-8073-7 59-7.
8. VASILKO, K., HRUBÝ, J., LIPTÁK, J. Technológia obrábania a montáže.
Bratislava : Alfa, 1991, 496 s. ISBN 80-05-00807-4.
9. WHITEHOUSE, D. Handbook of Surface Metrology. Rank Taylor Hobson Ltd.
England, 1994.