Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku

Měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy

Summary

Základním cílem předmětu je poskytnout základní představu o měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy. Pochopení principů měření topografie povrchu umožní racionálně využít všech možností použití přístrojů a vyvíjených zařízení pro studium topografie povrchu. Znalost vlivu technologického procesu na topografii povrchu je velmi důležitá pro zvýšení výroby při dodržení požadované jakosti výrobků, což je cílem každé technologie výroby. Předmět je orientován na vytváření povrchu, jeho významu u různých technologií, hodnocení topografie povrchu, kontrolu topografie povrchu různými metodami (mechanické, optické a jiné) a soustředění se na bezkontaktní způsoby detekce topografie povrchu.

Literature

1. BUMBÁLEK, B., ODVODY, V., OŠŤÁDAL, B. Drsnost povrchu. Praha : SNTL,
1989.
2. BÁTORA, B., VASILKO, K. Obrobené povrchy. Technologická dědičnosť,
funkčnosť. Trenčín : TU, 2000, 184 s. ISBN 80-88914-19-1.
3. BECKMANN, P., SPIZZICHINO, A. The Scattering of Electromagnetic waves
from Rough Surfaces. Oxford : Pergamon, 1963, 503 s. ISBN 63-10-108.
4. BEČKA, J. Tribologie. Praha : ČVUT, 1997, 213 s. ISBN 80-01-01621-8.
5. BEŇO, J., MAŇKOVÁ, I. Technologické a materiálové činitele obrábania.
Strojnícka fakulta TU, (kap. 7 Monitorizácia obrábania), Košice, 2004. ISBN-80-
7099-701-X.
6. DUPARRÉ, A., et al. Surface characterization techniques for tetermining the
root-mean-square roughness and power spectral densities of optical
components. Applied optics, 2002, vol. 41, no. 1, p. 154-171. ISSN 0003-6935 .
7. CHIFFRE, L., et al. Quantitative characterisation of surface texture. CIRP
Annals - Manufacturing Technology, 2000, vol. 49, no. 2, p. 635-652. ISSN
0007-8506.

Advised literature

1. CHUDÝ, V., PALENČÁR, R., KUREKOVÁ, E., HALAJ, M. Meranie technických
veličín. Bratislava : STU, 1999, 688 s.
2. MAŇKOVÁ, I. Progresívne technológie. Košice : Vienala, 2000. ISBN 80-7099-
430-4.
3. OGILVY, J. A. Theory of waves scattering from random rough surfaces. Bristol,
IOP Publishing Ltd., 1992. 272 s. ISBN 0-7503-0063-9 .
4. THOMAS, T.R. Rough surfaces. London and New York : Longman, 1982, 261 s.
ISBN 0-582-46816-7 .
5. TŮMA, J. Zpracování signálů získaných z mechanických systémů užitím FFT.
Praha : Sdělovací technika, 1997, 174 s. ISBN 80-901936-1-7.
6. VALLIANT, J.G., FOLEY, M.P., BENNETT, J.M. Instrument for on-line
monitoring of surface roughness of machined surfaces. Optical Engineering,
2000, vol. 39, no. 12, p. 3247-3254. ISSN 0091-3286 .
7. VASILKO, K. Analytická teória trieskového obrábania. Prešov : Fakulta
výrobných technologií TU v Košiciach, 2007, 338 s. ISBN 987-80-8073-7 59-7.
8. VASILKO, K., HRUBÝ, J., LIPTÁK, J. Technológia obrábania a montáže.
Bratislava : Alfa, 1991, 496 s. ISBN 80-05-00807-4.
9. WHITEHOUSE, D. Handbook of Surface Metrology. Rank Taylor Hobson Ltd.
England, 1994.


Jazyk výuky čeština, čeština
Kód 516-0947
Zkratka MTP
Název předmětu česky Měření topografie povrchů vytvořených různými technologickými procesy
Název předmětu anglicky Measurement of Topography of Surfaces Created by Various Technological Processes
Garantující katedra Institut fyziky
Garant předmětu doc. Ing. Jan Valíček, Ph.D.