HOLLAS, J. M., Modern Spectroscopy (4th ed.), John Willey & Sons, 2009.
FOX, M., Optical properties of solids, Oxford Univ. Press, 2003.
STENZEL, O., The physics of thin film optical spectra, Springer, Berlin, 2005.
Saleh, B. E. A. Teich, M. C., Fundamentals of Photonics,3rd ed., John Willey, 2019 (český překlad Základy fotoniky, Matfyzpress ,1994).
Spektroskopie nanostruktur
| Jazyk výuky | angličtina, čeština |
|---|---|
| Kód | 653-3160 |
| Zkratka | SN |
| Název předmětu česky | Spektroskopie nanostruktur |
| Název předmětu anglicky | Spectroscopy of Nanostructures |
| Garantující katedra | Katedra materiálového inženýrství a recyklace |
| Garant předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava |
Anotace
Cílem předmětu je pochopení principů optické spektroskopie pro studium materiálů, tenkých vrstev, nanostrukturovaných a periodických systémů. Důraz je kladen na metody a techniky měření, optické vlastnosti látek, modelování spektroskopické odezvy nanostruktur a metody fitování experimentálních spektroskopických dat. Rovněž je shrnuto využití spektroskopických metod v chemické analýze, charakterizaci struktury látek a určování vlastností metariálů.
Povinná literatura
Doporučená literatura
OHLÍDAL, I., FRANTA, D.: Ellipsometry of thin film systems, In: Progress in Optics, Vol. 41, Ed. E. Wolf, 2000.
LUTH, H., Solid surfaces, interfaces and thin films, Springer, Berlin 2001.
LUTH, H., Solid surfaces, interfaces and thin films, Springer, Berlin 2001.