Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku

Speciální metody analytické chemie

Typ studia doktorské
Jazyk výuky čeština
Kód 9360-0211/01
Zkratka SMACH
Název předmětu česky Speciální metody analytické chemie
Název předmětu anglicky Special Methods of Analytical Chemistry
Kreditů 10
Garantující katedra Centrum nanotechnologií
Garant předmětu doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.

Osnova předmětu

1. Spektrální metody analytické chemie
Atomová emisní spektrometrie (buzení jiskrou, doutnavým výbojem, ICP), optické spektrometry, hmotnostní spektrometrie
Atomová absorpční spektrometrie (plamenová a elektrotermická atomizace, metoda těkavých hydridů)
Rentgenová spektrální analýza, rtg. fuorescenční spektrometrie (XRF), XRF s fokusovaným rtg. svazkem, metoda totálního odrazu, grazing metoda
Elektronová spektroskopie (XPS, AES)
Molekulová absorpční analýza, oblast UV/VIS, infračervená spektrometrie
Ramanova spektrometrie, RS ve spojení s mikroskopem.

2. Elektrochemické metody
Konduktometrie, přímá, konduktometrické titrace
Potenciometrie, iontově selektivní elektrody, potenciometrické titrace
Elektrolytické metody, voltametrie (polarografgie), nové voltametrické metody, coulometrie
Elektromigrační separační metody, kapilární elektroforéza, izotachoforéza.

3. Analytická elektronová mikroskopie (AEM)
Základy elektronové mikroskopie, interakce elektronového paprsku s hmotou a základní prvky elektronových mikroskopů
Transmisní elektronová mikroskopie (TEM), skenovací elektronová mikroskopie (SEM), skenovací transmisní elektronová mikroskopie (STEM.
Rentgenová spektrální mikroanalýza, spektrometrie Augerových elektronů
Spektrometrie ztrátové energie elektronů (EELS)
Fokusovaný iontový svazek (FIB), manipulace se vzorkem v nano-rozměrech.

Povinná literatura

1. Z. Holzbecher, J. Churáček, Analytická chemie. SNTL, Praha 1987.
2. J. Kenkel, Analytical Chemistry for Technicians, Third Edition, CRC 2002.
3. R. Tertian, F. Claisse, Priciples of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis, Hayden & son Ltd, London 1982.

Doporučená literatura

1. J. Zýka, aj., Analytická příručka, 2. díl, SNTL, Praha 1988.
2. E. P. Bertin, Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, New York - London 1975.
3. V. Hulínský, K. Jurek, Zkoumání látek elektronovým paprskem, SNTL, Praha 1982.
3. D. B. Williams, Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science, Verlag chemie international, Florida - Basel 1984.
4. N. Yao, Z. L. Wang (Eds.), Handbook of microscopy for nanotechnology, Kluwer Acadenic Publishers, Boston 2005.
5. Kolektiv autorů: Sborník přednášek kurzu Rentgenová spektrometrie, 2 THETA, Český Těšín 2005. ISBN: 80-86380-17-3.