1. J. Zýka, aj., Analytická příručka, 2. díl, SNTL, Praha 1988.
2. E. P. Bertin, Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, New York - London 1975.
3. V. Hulínský, K. Jurek, Zkoumání látek elektronovým paprskem, SNTL, Praha 1982.
3. D. B. Williams, Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science, Verlag chemie international, Florida - Basel 1984.
4. N. Yao, Z. L. Wang (Eds.), Handbook of microscopy for nanotechnology, Kluwer Acadenic Publishers, Boston 2005.
5. Kolektiv autorů: Sborník přednášek kurzu Rentgenová spektrometrie, 2 THETA, Český Těšín 2005.
ISBN: 80-86380-17-3.