Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku

Speciální metody analytické chemie

Cíle předmětu

Studenti se blíže seznámí s metodami chemické analýzy materiálů se zaměřením na analýzu nanomateriálů. Pozornost bude věnována zejména vybraným spektrálním metodám. Budou probrány metody rentgenové spektrální analýzy a emisní spektrální analýzy s doutnavým výbojem pro analýzu velmi tenkých vrstev. Dále budou představeny metody spektrální analýzy v kombinaci s elektronovými mikroskopy pro charakterizaci mikro- a nano- částic a Ramanova spektrometrie v kombinaci s mikroskopem.

Povinná literatura

1. Z. Holzbecher, J. Churáček, Analytická chemie. SNTL, Praha 1987.
2. J. Kenkel, Analytical Chemistry for Technicians, Third Edition, CRC 2002.
3. R. Tertian, F. Claisse, Priciples of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis, Hayden & son Ltd, London 1982.

Doporučená literatura

1. J. Zýka, aj., Analytická příručka, 2. díl, SNTL, Praha 1988.
2. E. P. Bertin, Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, New York - London 1975.
3. V. Hulínský, K. Jurek, Zkoumání látek elektronovým paprskem, SNTL, Praha 1982.
3. D. B. Williams, Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science, Verlag chemie international, Florida - Basel 1984.
4. N. Yao, Z. L. Wang (Eds.), Handbook of microscopy for nanotechnology, Kluwer Acadenic Publishers, Boston 2005.
5. Kolektiv autorů: Sborník přednášek kurzu Rentgenová spektrometrie, 2 THETA, Český Těšín 2005. ISBN: 80-86380-17-3.


Jazyk výuky čeština, angličtina
Kód 9360-0211
Zkratka SMACH
Název předmětu česky Speciální metody analytické chemie
Název předmětu anglicky Special Methods of Analytical Chemistry
Garantující katedra Centrum nanotechnologií
Garant předmětu doc. Ing. Vladimír Tomášek, CSc.