Nově pořízený mikroskop Helios 5 CX kombinuje skenovací elektronovou mikroskopii (SEM) s fokusovaným iontovým svazkem (FIB). Umožňuje nejen detailní zobrazování materiálů s nanometrovým rozlišením, ale i jejich precizní úpravu a přípravu pro další analýzy.
Díky iontové mikrofabrikaci, pokročilému 3D řízení a automatizaci se stává nepostradatelným nástrojem pro tvorbu ultratenkých lamel o tloušťce desítek nanometrů – klíčového kroku pro moderní atomární analýzu.
„Tento přístroj bude využíván napříč fakultami VŠB-TUO, zejména ve spolupráci s Fakultou materiálově-technologickou v rámci projektu REFRESH, který propojuje výzkum struktury materiálů s jejich praktickými aplikacemi v energetice, chemii, strojírenství a polovodičových technologiích,“ řekl vedoucí MEL Radek Zbořil, který vede i jednu z živých laboratoří REFRESH.
Dalším významným přínosem pro výzkum je EPR spektrometr pro detekci paramagnetických center s extrémní citlivostí, a to až na úrovni nanomolárních koncentrací. Technika elektronové paramagnetické rezonance (EPR) nachází široké uplatnění v chemii, fyzice, biologii i materiálovém výzkumu. „V našem týmu ji využíváme především pro vývoj materiálů pro přeměnu a ukládání energie, udržitelnou chemii a environmentální aplikace,“ doplnil Zbořil.
Text: Martina Šaradínová, PR manažerka REFRESH
Foto: Petr Havlíček