Předmětem veřejné zakázky je dodávka SPM mikroskopu s možností měření v externím magnetickém poli. Jedná se o systém mikroskopu skenující sondou (SPM) pracující na principu trojrozměrného skenování povrchů, který využívá k měření externí magnetické pole v rovině vzorku (in plane) a kolmo k rovině vzorku (out of plane). Mikroskop bude využit v široké škále aplikací (např. materiálová analýza, biotechnologie), zejména však ke studiu magnetických materiálů, procesech v nich probíhajících (vizualizace magnetických domén, procesů magnetizace, demagnetizace v nanokompozitech, rychle ztuhlých kovech, tenkých vrstvách) a vlivu externího magnetického pole na tyto materiály.
Zařízení musí umožnit měřicí módy SPM mikroskopu ve vzduchu (požadované měřicí módy SPM na vzduchu):
- Contact AFM,
- lateral force microscopy (LFM),
- Resonant Mode (semicontact, noncontact AFM),
- Phase Imaging,
- Magnetic Force Microscopy (MFM),
- Electric Force Microscopy (EFM),
- Scanning Kelvin probe microscopy,
- AFM Litography
Konfigurace SPM mikroskopu se musí orientovat především na měření v externím magnetickém poli. Nedílnou součástí dodávky musí být magnet generující magnetické pole v rovině vzorku (in plane) a magnet generující magnetické pole kolmo na rovinu vzorku (out of plane). Kompatibilita dodaného systému SPM s oběma magnety musí být zaručena. Ovládání magnetů musí být plně integrováno do software mikroskopu. Součástí dodávky musí být optimalizovaný chlazený zdroj napájení pro oba magnety a uzavřený chladicí systém k magnetům (bez napojení na vodovodní systém). Externí magnety generují magnetické pole v rovině vzorku a kolmo ke vzorku (in-plane a out of plane - dodání těchto dvou typů magnetů je součástí předmětu zakázky).
- In-plane magnet: generované magnetické pole v rovině vzorku o velikosti minimálně 0,1 T (při mezeře mezi pólovými nádstavci 15 mm).
- Out of plane magnet: magnet generující pole o velikosti minimálně 0,01 T ve směru kolmém ke vzorku.
Oba magnety musí být schopny měřit vzorky o rozměrech 15x15 mm.
Předmětem zakázky je dále skener s těmito parametry:
- Měřicí hlava pro skenování sondou ve směrech x, y, z musí být vyrobena z nemagnetických součástek.
- Rozsah skenování: alespoň 70x70x7 mm
- Nelinearita v osách xy: nejvýše 0,2%
- Nelinearita v ose z: nejvýše 2%
Dále je předmětem zakázky základna systému SPM a přiblížení vzorku s těmito parametry:
Automatické i manuální přibližování vzorku, videomikroskop s manuálním zoomem pro optické rozlišení minimálně 3 mm, konektory pro připojení skenerů (měřicích hlav).
Součástí zakázky je také SPM kontrolér:
- kontrola kapacitních senzorů,
- záznam alespoň 4 obrazů během jednoho skenu,
- maximální délka kabelu mezi měřicí hlavou a kontrolerem alespoň 2 m.
Předmětem zakázky je také odpovídající PC pracovní stanice vč. software ke kompletnímu řízení funkcí mikroskopu a zpracování měřených dat.
Zadavatel dále požaduje dodávku antivibračního systému zatížitelného minimálně 100 kg s odpovídajícími rozsahy izolace (dynamická 0,7 - 1000 Hz, pasivní nad 1000 Hz), šumu a dalších.
Nabízený mikroskop SPM musí být schopen dalšího rozšíření o následující příslušenství:
- možnost rozšířit mikroskop o teplotní měření,
- možnost rozšířit mikroskop o STM (scanning tunneling microscopy),
- možnost rozšířit mikroskop o měření v kapalinách (kapalinová cela).
Součástí kompletní dodávky je doprava, instalace, uvedení do provozu, technické a aplikační zaškolení uživatelů v sídle zadavatele (vždy minimálně 2 osoby), příslušné návody v českém nebo anglickém jazyce. Součástí zakázky je také upgrade software po celou dobu životnosti mikroskopu (náklady na upgrade budou zahrnuty v nabídkové ceně).
Technická specifikace tvoří minimální požadavky na zařízení. Nesplnění i jednoho z parametrů (není-li uvedeno jinak) alespoň v minimální úrovni je důvodem pro vyřazení nabídky. Technická specifikace je stanovena v příloze této zadávací dokumentace. Zadavatel umožňuje splnit technické parametry dodávkou dvou zařízení s různými vlastnostmi.