S. Svanberg, Atomic and molecular spectroscopy: basic aspects and practical applications, Springer-Verlag, Berlin 1991
R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and polarized light, North-Holland, Amsterdam 1977
H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, John Wiley & Sons 2007
P. Griffiths, J. A. De Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry (Chemical Analysis: A Series of Monographs on Analytical Chemistry and Its Applications), Wiley 2nd. Ed, 2007
Optická spektroskopie a elipsometrie nanostruktur
| Jazyk výuky | angličtina, čeština |
|---|---|
| Kód | 653-0950 |
| Zkratka | OSEN |
| Název předmětu česky | Optická spektroskopie a elipsometrie nanostruktur |
| Název předmětu anglicky | Optical Spectroscopy and Ellipsometry of nanostructures |
| Garantující katedra | Katedra materiálového inženýrství a recyklace |
| Garant předmětu | doc. Dr. Mgr. Kamil Postava |
Anotace
Základním cílem předmětu je seznámit studenty s metodami optických spektroskopií, které se používají ke studiu tenkých vrstev a nanostrukturovaných periodických a kompozitních materiálů. Důraz je kladen na fyzikální principy optické spektroskopie, metody měření a zpracování naměřených dat, specifika povrchů, nanočástic periodických systémů a efektivních medií. Předmět zahrnuje metody transmisní a reflexní spektroskopie, spektroskopické elipsometrie, infračervené spektroskopie a magnetooptické spektroskopické elipsometrie.
Povinná literatura
Doporučená literatura
O. Stenzel, The physics of thin film optical spectra, Springer 2005
P.Y. You and M. Cardona, Fundamentals of semiconductors, 3rd Ed, Springer 2010
I. Ohlídal, D. Franta, Ellipsometry of thin film systems, In: Progress in Optics, Vol. 41, Ed. E. Wolf, 2000
H. Tompkins and E. Irene, Handbook of Ellipsometry, William Andrew 2005
D. S. Kliger, J. W. Lewis, C. E. Randall, Polarized light in optics and spectroscopy, Academic Press, New York 1990
P.Y. You and M. Cardona, Fundamentals of semiconductors, 3rd Ed, Springer 2010
I. Ohlídal, D. Franta, Ellipsometry of thin film systems, In: Progress in Optics, Vol. 41, Ed. E. Wolf, 2000
H. Tompkins and E. Irene, Handbook of Ellipsometry, William Andrew 2005
D. S. Kliger, J. W. Lewis, C. E. Randall, Polarized light in optics and spectroscopy, Academic Press, New York 1990